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XT H 450 LC，用于叶片和铸件的CT检测，
带有高功率450kV微焦点X射线源
Metris XT H 450 LC建立了涡轮叶片测量和中小铸件NDT检测的新参考标准。这台功能强大的设备的核心部件是一个450kV微焦点源，可提供超高分辨率和超高精度。

弯曲的线性阵列探测器通过消除散射现象，优化了X射线图像的采集，散射现象通常会影响叶片和其它金属件的二维射线照片。该探测器是一台非常灵活的设备，可处理小金属件到大金属件，例如叶片、铸件等

优点

可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析快速数据采集和高质量图像高分辨率数字成像和处理嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志

特性

独特的450kV微焦点源测量体积可达600mm直径和600mm高度高效线性探测器，>80%量子检测有效率五轴完全可编程托盘式操纵器，带精密滚珠丝杆和线性滑轨特别适用于涡轮叶片的自动通过/不通过检测

应用

涡轮叶片内部结构的详细分析叶片的自动通过/不通过检测需要微米精度的高密度部件检测（例如金属件、铸件）
信息来源：http://dunjie2009.tpys.cn/